埃度纳米与 DECTRIS 举办 POLLUX 探测器新品交流暨战略合作发布会
【2026年5月19日，上海】全球领先的X射线探测器制造商 DECTRIS 携全新一代 POLLUX光子计数探测器到访埃度纳米科技（上海）有限公司（IDONANO）思贤路园区，举办新品发布与技术交流活动。
DECTRIS 资深产品经理 Dr. Marcus Mueller 与应用专家 Dr. Hans Gildenast 现场进行了产品介绍与技术分享，双方围绕 POLLUX 在高端科学仪器领域的集成应用展开深入交流，并进一步确立了基于 POLLUX 探测器的深化合作关系。
此次交流标志着双方合作正从传统探测器集成，进一步迈向围绕下一代高端XRD系统的协同研发与联合应用阶段。
聚焦高性能探测技术，共探实验室XRD新方向
发布会上，Dr. Marcus Mueller围绕 POLLUX 的产品定位与核心架构进行了系统介绍，重点展示了其高能量分辨率、高动态范围及高计数率等性能优势，并结合实测数据展示了产品在复杂工况下对于荧光背景抑制、微量成分检测以及整体数据质量提升方面的能力。
Dr. Hans Gildenast则从应用场景出发，详细解读了 POLLUX 在粉末衍射、残余应力分析、掠入射测量、小角/广角散射等方向的应用优势，并现场展示了相关测试数据与典型案例，为双方技术团队提供了直观的性能验证。
POLLUX：面向下一代实验室XRD的高性能探测方案
作为全球混合光子计数（HPC）探测器领域的重要企业，DECTRIS 长期专注于高性能X射线探测技术研发，其产品在无噪声、高动态范围以及高速读出等方向具备广泛行业认可。
本次发布的 POLLUX 探测器专为实验室X射线衍射（XRD）应用打造，在延续 DECTRIS 大面积二维探测器高动态响应优势基础上，实现了高能量分辨率性能，并在计数率、有效面积与数据质量之间实现良好平衡。
POLLUX 同时具备双能量阈值设定、连续读出及高帧频采集等特点，可有效降低荧光与背景干扰，为粉末衍射、残余应力分析、掠入射测量、小角/广角散射（SAXS/WAXS）等应用提供更高质量的数据支持。
深化合作，共同推进高端XRD系统能力建设
埃度纳米作为中国高端X射线分析仪器先行者，已在多款自研系统中成功集成 DECTRIS 一维及二维探测器，在数据质量、测量效率及系统稳定性方面积累了丰富经验。
目前，埃度纳米包括N3 PHINIX在内的多个系列产品已在国内多家科研机构及企业用户中实现应用，并获得用户广泛认可。
在本次交流过程中，埃度纳米研发团队与 DECTRIS 技术团队围绕 POLLUX 的硬件集成、软件接口以及场景化开发等方向进行了深入讨论，并对探测器与埃度纳米系统的兼容性及协同能力进行了现场验证。
企业观点：推动高性能XRD系统持续升级
埃度纳米联合创始人兼CTO 张卫星先生 与首席科学家 鲍朝辉博士 表示：
“DECTRIS 在全球X射线探测器领域拥有深厚的技术积累，多年来双方稳定的合作也验证了其产品的性能与可靠性。POLLUX 在高能量分辨率、高动态范围以及系统适配能力方面展现出良好潜力，与埃度纳米高端化、精密化及场景化的产品方向高度契合。此次深化合作，将进一步提升埃度纳米在高端XRD系统方向的综合能力。”
DECTRIS 客户支持代表Dr. Lu Mifang表示：
“埃度纳米在仪器集成与市场落地方面的能力令人印象深刻，双方此前已经建立了良好的合作基础。POLLUX 希望为实验室与工业检测提供更灵活、更高效的探测方案，我们期待与埃度纳米持续合作，共同推动前沿探测技术在材料科学、半导体检测及纳米技术等领域的应用发展。”
面向未来，推进新品协同研发与联合应用
埃度纳米表示，本次交流不仅完成了 POLLUX 探测器在中国市场的技术发布，也标志着双方合作正式进入“新品同步研发、场景联合落地”的新阶段。
未来，埃度纳米与 DECTRIS 将围绕高性能XRD系统持续深化技术协同与产品合作，推动高精度探测技术与先进X射线分析装备的融合发展，为科研与产业用户提供更高质量、更高效率的结构分析解决方案。
