针对生产线、实验装置或特殊现场环境，开发紧凑型、模块化或在线X射线分析系统，并支持与MES、LIMS及客户控制系统的数据对接。
根据实验室或生产现场需求，集成自动进样、样品识别、机器人接口、连续测量、自动分析及数据上传功能，提升分析效率与设备利用率。
面向电池材料、催化材料及能源器件，开发适用于粉末、电极片、电芯及反应过程的结构分析系统，支持快速检测、原位研究与批量样品测试。
面向晶圆、外延薄膜、先进封装及半导体制造过程，开发XRD、HRXRD、XRR、GID等专用量测方案，实现膜层结构、应变、取向、晶体质量及界面特性的分析。
集成高温、低温、气氛、真空、电化学、力学加载等原位环境，研究材料在真实反应或工作条件下的结构演变。
针对特殊样品、特殊几何结构和特殊测试方法，开发定制化X射线衍射系统，包括光源、光路、测角系统、样品台、探测器及控制软件的整体设计。
如果现有标准仪器无法完全满足您的样品、方法或应用需求，欢迎与埃度纳米共同定义下一套X射线分析装备。
